Semiconductor Chip High and Low Temperature Testing Machines

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Semiconductor chip high and low temperature test is a necessary test equipment for metal, components, electronics and other material industries. It is used to test the degree of material structure or composite material that can be endured in a continuous environment of high temperature and low temperature in a short time. The chemical change or physical damage caused by thermal expansion and contraction of the internal test sample.
The high and low temperature test of semiconductor chips has simple and convenient operation performance and reliable equipment performance. Physical changes in defense industry, aerospace, BGA, PCB base, electronic chip IC, semiconductor ceramics and polymer materials.

Special attention should be paid to the high and low temperature test of semiconductor chips. The high and low temperature test of semiconductor chips cannot be easily opened during use. The main reasons are as follows:

The semiconductor chip high and low temperature test is a test box that simulates the environment. During use, there may be various extreme environments in the test box, such as low temperature, high temperature and high pressure, high temperature and high humidity and other special conditions.

If a low temperature test of -70°C is being performed in the test box, open the door of the test box at this time, and the cold air flow will overflow the test box. If our fingers touch the samples on the wall of the test box without any protection, they will be frozen instantly. , the muscle tissue at the frostbitten site may even necrosis. In addition, opening the door of the test chamber at a lower temperature may cause frost on the evaporator, which will affect the cooling speed, and may even cause problems such as damage to the compressor.

If the door of the test chamber is opened during a test at a high temperature of 150°C in the test chamber, the high-temperature gas will burst out of the test chamber in an instant. Combustibles may even cause a fire.

If it is other environmental test equipment, such as the constant temperature and humidity test chamber in the high temperature and high humidity test chamber, the pressure and steam in the instrument will be very large. If the door of the test chamber is opened at this time, there will also be high temperature and high humidity steam. Running out of the test chamber is also more likely to cause serious burns to the operator.

Therefore, in the middle of the high and low temperature test of the semiconductor chip, if it is not necessary to open the door of the test box, do not open the door of the test line. Open the test chamber door.

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Prodotti                                                                                                           

Serie TES (Disegni personalizzati)

Adatto per il controllo preciso della temperatura dei componenti elettronici. Nella produzione di componenti elettronici a semiconduttore per ambienti difficili, le fasi di assemblaggio dell'imballaggio IC e di test di progettazione e produzione includono test termici elettronici e altre simulazioni di test ambientali.

Serie LTS (liquido fluorurato) (Disegni personalizzati)

Ampiamente utilizzato nel processo di produzione dei semiconduttori per controllare la temperatura della camera di reazione, la temperatura del dissipatore di calore e il controllo della temperatura del fluido non infiammabile del mezzo di trasferimento del calore.

Serie FLT (Disegni personalizzati)

Il refrigeratore del sistema di controllo della temperatura dei semiconduttori è utilizzato principalmente per il controllo preciso della temperatura nel processo di produzione e di test dei semiconduttori. È stato sviluppato e progettato appositamente per l'industria dei semiconduttori.

Serie FLTZ Conversione di frequenza (Disegni personalizzati)

Il sistema di controllo della temperatura della serie a doppia conversione di frequenza, la pompa di circolazione e il compressore sono regolati dalla conversione di frequenza.

Serie ETCU (Disegni personalizzati)

Tipo di scambio termico

Sistema senza compressore

Serie ZLFQ (Disegni personalizzati)

Unità di distribuzione del refrigerante

L'apparecchiatura di raffreddamento a liquido è adatta per il test dei semiconduttori, per il test della temperatura costante delle apparecchiature elettroniche, per il raffreddamento dell'infrastruttura di supporto dei server e per altri luoghi di controllo della temperatura dei fluidi.

Serie di mandrini termici MD (Disegni personalizzati)

Viene utilizzato per testare dispositivi RF e dispositivi di potenza ad alta densità (IGBT e MOSFET) e può essere utilizzato anche per il raffreddamento rapido di pannelli piatti da laboratorio (plasma, prodotti biologici, batterie), ecc.

Sistemi di controllo della temperatura del gas                                                               

Macchina per prove d'urto a getto della serie AES

(Disegni personalizzati)

Gamma di controllo della temperatura: -120°C ~ +225°C

Sistema di controllo della temperatura dell'aria di ricircolo della serie AI

(Disegni personalizzati)

Campo di controllo della temperatura: -105°C ~ +125°C

Sistema di refrigerazione a gas serie LQ

(Disegni personalizzati)

Gamma di controllo della temperatura: -110°C ~ -40°C

Dispositivo di recupero della condensa dei gas di scarico della serie YQH

(Disegni personalizzati)

Applicato al recupero della liquefazione dei gas di condensazione. I gas di scarico o altri gas elettronici vengono collegati all'apparecchiatura attraverso il ventilatore a tiraggio indotto (pompa del vuoto), liquefatti, raccolti e separati nel serbatoio di raccolta abbassando la temperatura, mentre gli altri gas vengono scaricati, in modo da realizzare la condensazione, la cattura e il recupero del gas.

Serie ZLJ / SLJ (Disegni personalizzati)

È adatto a luoghi in cui l'area di scambio termico dello scambiatore di calore è piccola ma la capacità di scambio termico è grande. Può essere utilizzata anche per la cattura dei gas: il refrigerante viene fatto passare direttamente nella trappola per evaporare e il gas presente nello spazio viene rapidamente catturato grazie all'effetto di condensazione sulla superficie della trappola.